정밀 반도체 부품 세척 전

LENJEX 산업용 청소

반도체 부품 및 설비 초음파 세척

미세 입자와 표면 무결성이 중요한 반도체 부품, 캐리어, 툴링을 부드럽고 제어된 방식으로 세척합니다.

왜 초음파인가?

반도체 부품의 초음파 세척

반도체 제조 및 그 툴링에는 매우 미세한 입자 제어와 표면 보호를 위한 부드러운 에너지가 필요합니다. 고주파수 제어 초음파 세척은 저주파 수조의 강한 파열 없이 캐리어, 고정 장치 및 호환 부품에서 미세한 입자와 잔류물을 제거합니다.

는 실험실 초음파 세척기, 가스 제거 및 스윕을 통해 다중 주파수 청소기 이러한 작업에 사용됩니다. 주파수와 화학적 성질을 주의 깊게 검토합니다. 작업은 다음과 관련이 있습니다. 클린룸 정밀 청소 그리고 정밀한 청정도 관리.

장비를 지정하기 전에 호환성, 입자 제한 및 통제된 환경에서의 취급을 확인합니다.

헹굼이 제어되는 정밀 부품
  • 제어된 에너지로 미세 입자 제거
  • 표면을 보호하는 부드러운 주파수
  • 균일하고 일관된 캐비테이션을 위한 스윕 및 가스 제거
  • 캐리어, 고정 장치 및 호환 부품에 적합
  • 통제된 생산을 위한 반복 가능한 사이클

일반적인 공작물

이 애플리케이션의 부품

  • 웨이퍼 캐리어 및 카세트
  • 프로세스 설비 및 툴링
  • 정밀 가공 부품
  • 세라믹 및 석영 부품
  • 금속 실드 및 트레이
  • 호환 가능한 소형 어셈블리

오염

평가할 토양

  • 미세 입자 및 먼지
  • 공정 잔류물
  • 지문 및 취급 오염
  • 폴리싱 및 래핑 잔여물
  • 오일 및 유기 필름
정밀 부품 검사

청정도 목표

장비를 선택하기 전에 청결을 정의하십시오

승인은 통제된 환경에 적합한 입자 수와 표면 검사를 기반으로 합니다.

청소 후 재오염을 방지하기 위해 취급, 헹굼 및 건조를 관리합니다.

권장 순서

평가를 위한 프로세스 경로

최종 순서는 토양 부하, 재료, 헹굼 품질 및 건조 동작에 따라 달라집니다.

  1. 1단계새로운 액체의 가스를 제거하고 고주파수를 선택합니다.
  2. 2단계미세한 입자를 들어 올리는 부드러운 초음파 세척
  3. 3단계제어된 헹굼 단계
  4. 4단계통제된 환경에서 건조 및 취급
  5. 확인입자수 및 표면 상태 확인

권장 장비

비교할 시스템

최종 사양은 프로세스 테스트 및 생산 분석을 따릅니다.

프로세스 제어

청소 결과를 변경하는 변수를 제어합니다.

장비 설정을 수정하기 전에 부품, 토양, 적재 및 최종 취급을 확인하십시오.

컨트롤 01

소재와 기하학

공기나 액체를 가둘 수 있는 표면, 구멍 및 특징을 기록합니다.

컨트롤 02

토양상태

이상적인 샘플이 아닌 가장 심각한 대표 오염을 테스트합니다.

컨트롤 03

바구니 로딩

음향 접근 및 부품 간격을 생산과 일관되게 유지하십시오.

컨트롤 04

헹구고 말리기

잔류물 및 부식 위험에 따라 다운스트림 처리를 일치시킵니다.

시스템 선택

생산 흐름에 맞춰 청소 경로를 일치시키세요.

단계 수와 자동화는 검증된 프로세스와 필요한 출력을 따릅니다.

일괄

단일 탱크 경로

헹굼과 건조가 별도로 관리되는 집중 세탁과 비교해 보세요.

다단계

씻고, 헹구고, 말리세요

이월 및 최종 조건이 중요한 경우 제어된 단계를 추가합니다.

자동

반복 가능한 전송

출력, 처리 또는 레시피 제어에 필요할 때 자동화를 평가합니다.

수락

청소된 부품을 검사하는 방법을 정의합니다.

시험 샘플과 생산 부품에 동일한 실제 검사 방법을 사용합니다.

  • 표면 또는 잔류물 제한에 동의
  • 숨겨진 기능, 어려운 기능 확인
  • 헹굼, 건조 및 취급 조건을 기록합니다.
  • 다음 작업 전 결과 비교

대표적인 재판

실제 부품과 하중으로 공정을 확인하세요.

시험 증거는 정상적인 생산과 가장 어려운 예상 조건을 다루어야 합니다.

  1. 설명하다부품, 재료 및 오염.
  2. 로드사실적인 간격과 방향을 사용합니다.
  3. 테스트화학, 시간, 온도를 기록합니다.
  4. 확인합의된 방법으로 검사하십시오.

신청 질문

청소 연구 계획

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